JB/T 9493.5-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量
作者:标准资料网 时间:2024-05-19 10:07:52 浏览:8939
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基本信息
| 标准名称： | 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硅钼兰光度法测定硅量 |
| 英文名称： | Method for chemical analysis of manganin and novokostant resistance alloy The molybdosilicate blue photometric method for the determination of silicon content |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 仪器、仪表综合 >> 仪器、仪表用材料和元件 |
| ICS分类： | |
| 替代情况： | 原标准号ZB H13001.5-1988 |
| 发布部门： | 国家机械工业局 |
| 发布日期： | 1999-08-06 |
| 实施日期： | 2000-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 仪表功能材料标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 仪表功能材料标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 重庆仪表材料研究所、上海台金厂 |
| 出版社： | 机械工业出版社 |
| 出版日期： | 2000-01-01 |
| 页数： | 5页 |
| 批文号： | 国机管[1999]419 |
适用范围
本标准适用于锰铜电阻合金中硅>t的测定。侧定范围:0.050%～0.300%。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 仪器 仪表 仪器 仪表综合 仪器 仪表用材料和元件
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