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ANSI X3/TR-11-1992 信息处理系统的技术报告.为名称约定检验(NCV)提供支持的信息资源词典系统(非美国国家标准)

作者:标准资料网 时间:2024-05-15 23:35:04  浏览:9221   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:InformationProcessingSystemsTechnicalReport-InformationResourceDictionarySystem(IRDS)SupportforNamingConventionVerification(NCV)(NOTANAMERICANNATIONALSTANDARD)
【原文标准名称】:信息处理系统的技术报告.为名称约定检验(NCV)提供支持的信息资源词典系统(非美国国家标准)
【标准号】:ANSIX3/TR-11-1992
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:documentations;dataprocessing;informationprocessing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L70
【国际标准分类号】:35_240_30
【页数】:
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Pertroleumandnaturalgasindustries;drillingandproductionequipment;specificationforwellheadsurfacesafetyvalvesandunderwatersafetyvalvesforoffshoreservice
【原文标准名称】:石油和天然气工业.钻孔和生产设备.海上用井口表面安全阀和水下安全阀规范
【标准号】:ISO10433-1994
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1994-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/TC67
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:质量保证;材料规范;作标记;焊接;规范(验收);石油;阀门;钻孔设备;天然气;工业;钻井;维修;石油工业;矿物油;试验;定义;规范;安全阀;技术数据单;天然气工业;检修
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:E94
【国际标准分类号】:75_180_10
【页数】:63P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:StandardTestMethodforMeasuringFlatness,Thickness,andThicknessVariationonSiliconWafersbyAutomatedNoncontactScanning
【原文标准名称】:用自动无触点扫描法测量硅片平整度、厚度和厚度变化的标准试验方法
【标准号】:ASTMF1530-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:平整度;半导体;探测法;试验;厚度;硅晶片;大晶片;自动无触点扫描;无损检验NDE;无触点技术;硅半导体;切片;厚度变化
【英文主题词】:byautomatednoncontactscanning;noncontacttechnique;siliconsemiconductors;siliconwafers;slices;thicknessvariation;nondestructiveevaluationnde;test;semiconductors;thickness;probemethods;wafers;
【摘要】:
【中国标准分类号】:H83
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语