IEEE 1505.1-2008 利用IEEEStd1505高密度、单天线阵电子试验要求的通用试验接口标针地图框架用IEEE试验用标准

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 18:33:10  浏览:9072   来源:标准资料网

【英文标准名称】:IEEETrial-UseStandardfortheCommonTestInterfacePinMapConfigurationforHigh-Density,Single-TierElectronicsTestRequirementsUtilizingIEEEStd1505?
【原文标准名称】:利用IEEEStd1505高密度、单天线阵电子试验要求的通用试验接口标针地图框架用IEEE试验用标准
【标准号】:IEEE1505.1-2008
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2008-11-21
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(US-IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:连接器;定义;设计;尺寸规格;电插头;电子工程;检验;接口;电气连接件用接口;机械接口;性能要求;标针分配;销(钉);插头和插座连接;接收机;信号处理;规范;规范(验收);测试
【英文主题词】:Connectors;Definition;Definitions;Design;Dimensions;Electricplugs;Electronicengineering;Inspection;Interfaces;Interfacesofelectricalconnections;Mechanicalinterfaces;Performancerequirements;Pinassignmentlists;Pins;Plug-and-socketconnection;Receivers;Signalprocessing;Specification;Specification(approval);Testing
【摘要】:Thescopeofthistrial-usestandardisthedefinitionofapinmaputilizingtheIEEE1505?1receiverfixtureinterface(RFI).Thepinmapdefinedwithinthistrial-usestandardshallapplytomilitaryandaerospaceautomatictestequipment(ATE)testingapplications.
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:31_220_10
【页数】:170P.;A4
【正文语种】:英语